xmlns="http://www.w3.org/2000/svg" viewBox="0 0 54 54">
Gå til indhold

Kontrol af overflademonitorer

Overflademonitorer benyttes blandt andet på sygehuse og i laboratorier til at detektere og vurdere kontaminering af overflader, typisk i forbindelse med brug af åbne radioaktive kilder.

Overflademonitorer

Eksempler på typer af overflademonitorer fra samme producent.

Ydelse og pris

Vi tilbyder akkrediterede kontroller af overflademonitorer til brug for strålebeskyttelse f.eks. på sygehuse og i laboratorier. Ydelsen koster 1500 kr. eksklusiv moms per instrument.

Aftale om kontrol og indsendelse af instrumenter

Ved akkrediterede ydelser skal en blanket udfyldes og indsendes på forhånd. 

Blanket til aftale om kontrol

Blanketten printes, udfyldes, underskrives og sendes via e-mail til: sdl@sis.dk.

Når laboratoriet har bekræftet opgaven, sendes instrumentet til:

Sundhedsstyrelsen
Strålebeskyttelse
Att.: SDL
Knapholm 7
DK 2730 Herlev

Metode

Ved en kontrol af et instrument vurderes det, om instrumentets visning ligger inden for det forventede interval ift. værdien bestemt af laboratoriet. Dette forudsætter, at producenten har opgivet følsomhed ift. den specifikke strålekvalitet. Hvis ikke disse er opgivet, vil der ikke kunne foretages en vurdering, men udelukkende en beregning af instrumentets følsomhed.

Der benyttes certificerede fladekilder med kendt aktivitet og emissionsrate.

Instrumenterne kontrolleres med hensyn til overfladeemissionsraterespons. Overfladeemissionsrateresponset er en omregningsfaktor fra instrumentets visning i tælletal (typisk counts per second, cps) til aktivitet per areal. Metoden er baseret på standarderne ISO/IEC 60325:2002 og ISO/IEC 62363:2011. 

Strålekvaliteter af fladekilder

Kilde

E

[keV]

 14C 49 (beta) 
36Cl  233 (beta) 
90Sr  546 (beta) 
241Am  5486 (alfa) 

Akkreditering

Ydelsen er akkrediteret af DANAK i forhold til standarden ISO/IEC 17025. Laboratoriet deltager i sammenligningsprøver for at sikre pålidelighed af dets akkrediterede ydelser.

Sporbarhed

Fladekilderne er fra den tjekkiske leverandør VF og opfylder standarden ISO/IEC 8769:2016. Fladekildernes aktivitet og overfladeemissionsrate er bestemt af ČMI (det Tjekkiske Metrologiske Institut) med tilhørende tabulerede halveringstider fra Bureau International des Poids et Mesures (BIPM).
Laboratoriet er en del af det Internationale Atomenergiagenturs (IAEA) netværk af standarddosimetrilaboratorier (SSDL).

Kompetencer

Medarbejderne ved laboratoriet vedligeholder deres kompetencer ved at deltage i nordisk samarbejde inden for dosimetri samt ved deltagelse i internationale møder, kurser og seminarer afholdt af bl.a. IAEA.

Overflademonitor-opstilling

Opstilling til kontrol af overflademonitor med fladekilde i seks forskellige positioner ('contiguous portion measurement')

Opdateret 21 FEB 2024